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ATZelektronik
Erschienen in: ATZelektronik 6/2023

01.06.2023 | Entwicklung

Testassistenz mit automatisierter Anomalieerkennung zur effizienten FAS-Entwicklung

verfasst von: Julian Reindl, Andreas Simon, Maik Ketels

Erschienen in: ATZelektronik | Ausgabe 6/2023

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Auszug

Auf dem Weg zur finalen Freigabe hochautomatisierter Fahrerassistenzfunktionen müssen mehrere Millionen Testkilometer zurückgelegt werden. Die dabei gewonnenen enormen Datenmengen gilt es nicht nur präzise zu erfassen, sondern auch auszuwerten und die Ergebnisse in die Entwicklung einfließen zu lassen. Die ASAP-Gruppe geht der Frage nach, wie sich die Erkenntnisse aus großen Messdatenmengen möglichst schnell nutzbar machen lassen. Dabei nutzt ASAP maschinelles Lernen und statistische Datenanalyse zur automatisierten Erkennung von Anomalien in Messdaten. …
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Metadaten
Titel
Testassistenz mit automatisierter Anomalieerkennung zur effizienten FAS-Entwicklung
verfasst von
Julian Reindl
Andreas Simon
Maik Ketels
Publikationsdatum
01.06.2023
Verlag
Springer Fachmedien Wiesbaden
Erschienen in
ATZelektronik / Ausgabe 6/2023
Print ISSN: 1862-1791
Elektronische ISSN: 2192-8878
DOI
https://doi.org/10.1007/s35658-023-1462-8

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